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SB2204/3 智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀QS1換代產(chǎn)品

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更新時(shí)間：2022-09-07 15:07:29瀏覽次數(shù)：344次

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上海雙特電工儀器有限公司

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SB2204/3智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀2.1額定工作條件2.1.1環(huán)境溫度:0～40℃(當(dāng)溫度出20℃5℃時(shí),每變化10℃儀器基本誤差的改變量不過(guò)基本誤差限的1/2

詳細(xì)介紹

SB2204/3 智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀

2. 1 額定工作條件

2. 1.1 環(huán)境溫度:0～40℃(當(dāng)溫度出20℃±5℃時(shí),每變化10℃儀器基本誤差的改變量不過(guò)基本誤差限的1/2。)

2. 1.2相對(duì)濕度:30%～85%

2. 1.3供電電源:電壓:220V±22V,頻率: 50±1Hz

2. 2外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400

2. 3重量:不大于23kg

2. 4電子電路功耗:不大于40VA

2. 5測(cè)量范圍:

2. 5.1介質(zhì)損耗(tgδ):0～100％分辨率0.0001

2. 5.2電容量(Cx): 小分辨率0.01pF

2. 5.2.1內(nèi)接方式

試驗(yàn)電壓試品電容量

5kV 7.5kV 10kV 3pF～40000PF

1.5kV 2.25kV 3k 10pF～0.35μF

0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF

2. 5.2.2 外接方式

“外接升壓器”方式高試驗(yàn)電壓10kV

“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定
標(biāo)準(zhǔn)回路大電流50mA(In=UwCn)

被試回路大電流2A(Ix=UwCx)

2. 6 基本測(cè)量誤差

產(chǎn) 產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對(duì)濕度30%～85%的條件下，應(yīng)符合表1之規(guī)定。

表 1

測(cè)量?jī)?nèi)容	tgδ范圍	電容量范圍(Cx)	試品類型	基本誤差
介質(zhì)損耗因數(shù) tgδ	0～0.5	50pF～60000pF	非接地	±(1%讀數(shù)+0.0005)
		50pF～60000pF	接地	±(1%讀數(shù)+0.0010)
		10pF～50pF或 60000pF以上	非接地	±(1%讀數(shù)+0.0010)
		10pF～50pF或 60000pF以上	接地	±(2%讀數(shù)+0.002)
		3pF～10pF	非接地與接地	±(2%讀數(shù)+0.002)
電容量		50pF以上		±(1%讀數(shù)+1pF)
電容量		50pF以下		±(1%讀數(shù)+2pF)