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GTEM小室

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更新時(shí)間：2022-07-07 12:13:30瀏覽次數(shù)：1656次

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上海正衡電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品描述:1991年ABB（Asea Brown boveri Ltd.）愛(ài)蓮娜電子株式會(huì)社開(kāi)始設(shè)計(jì)和制造 GTEM cell ，擁有多種型號(hào)來(lái)滿足不同的客戶。作為可靠的電磁環(huán)境測(cè)試設(shè)備廣泛應(yīng)用于無(wú)線通信的性能評(píng)價(jià)，電磁干擾的測(cè)試，電磁輻射抗干擾的EMC測(cè)試，校準(zhǔn)天線和電場(chǎng)傳感器等。GTEM cell 小室是按照NIST標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)同軸及非對(duì)稱矩形傳輸線原理設(shè)計(jì)而成的設(shè)備。為了避免了電磁波的反射和諧振，外形設(shè)計(jì)成形，其輸入端采用N型同軸接頭，配有高性能終端裝置。設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)帶寬可以從DC~18GHz。的EGA系列，為了使邏輯仿真數(shù)據(jù)與實(shí)際情況相符合，標(biāo)準(zhǔn)性能分析方法于其他的公司，旨在更高的性能。6種基本型號(hào)去滿足客戶的測(cè)試要求，從產(chǎn)品的發(fā)展到質(zhì)量的控制的都有著廣泛用途.·GTEM Cell 標(biāo)準(zhǔn)型。能夠測(cè)試一般通用設(shè)備以及MIL規(guī)范設(shè)備。·覆蓋18GHz微波段來(lái)對(duì)應(yīng)當(dāng)前以及未來(lái)的發(fā)展。·600W的高輸入產(chǎn)生300V/m以上電場(chǎng)強(qiáng)度來(lái)滿足EMS測(cè)試。·對(duì)應(yīng)電磁脈沖抗擾度試驗(yàn)。·通過(guò)3點(diǎn)法可按照FCC追蹤EMI的評(píng)估測(cè)試。·通過(guò)連接自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高速測(cè)試。·從產(chǎn)品的發(fā)展到質(zhì)量的控制的廣泛用途，本產(chǎn)品可以根據(jù)客戶需......

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特征

·GTEM Cell 標(biāo)準(zhǔn)型。能夠測(cè)試一般通用設(shè)備以及MIL規(guī)范設(shè)備。

·覆蓋18GHz微波段來(lái)對(duì)應(yīng)當(dāng)前以及未來(lái)的發(fā)展。

·600W的高輸入產(chǎn)生300V/m以上電場(chǎng)強(qiáng)度來(lái)滿足EMS測(cè)試。

·對(duì)應(yīng)電磁脈沖抗擾度試驗(yàn)。

·通過(guò)3點(diǎn)法可按照FCC追蹤EMI的評(píng)估測(cè)試。

·通過(guò)連接自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高速測(cè)試。

·從產(chǎn)品的發(fā)展到質(zhì)量的控制的廣泛用途，本產(chǎn)品可以根據(jù)客戶需要進(jìn)行自定義。

GTEM概要

1991年ABB（Asea Brown boveri Ltd.）愛(ài)蓮娜電子株式會(huì)社開(kāi)始設(shè)計(jì)和制造 GTEM cell ，擁有多種型號(hào)來(lái)滿足不同的客戶。作為可靠的電磁環(huán)境測(cè)試設(shè)備廣泛應(yīng)用于無(wú)線通信的性能評(píng)價(jià)，電磁干擾的測(cè)試，電磁輻射抗干擾的EMC測(cè)試，校準(zhǔn)天線和電場(chǎng)傳感器等。GTEM cell 小室是按照NIST標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)同軸及非對(duì)稱矩形傳輸線原理設(shè)計(jì)而成的設(shè)備。為了避免了電磁波的反射和諧振，外形設(shè)計(jì)成形，其輸入端采用N型同軸接頭，配有高性能終端裝置。設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)帶寬可以從DC~18GHz。的EGA系列，為了使邏輯仿真數(shù)據(jù)與實(shí)際情況相符合，標(biāo)準(zhǔn)性能分析方法于其他的公司，旨在更高的性能。6種基本型號(hào)去滿足客戶的測(cè)試要求，從產(chǎn)品的發(fā)展到質(zhì)量的控制的都有著廣泛用途

GTEM cell 系統(tǒng)應(yīng)用【對(duì)應(yīng)的規(guī)范】

EMI 測(cè)試：

【IEC61000-4-20】【ANSI C63.4(FCC)】【SAE J1752/3】

·輻射抗擾度測(cè)試：

【IEC61000-4-3 Annex D】【IEC61000-4-20】【SAE J1113/24】

·電場(chǎng)探頭較準(zhǔn)：

【IEEE Std.1309】

·無(wú)線通信設(shè)備靈敏度測(cè)試

·無(wú)線通信設(shè)備輻射功率測(cè)試

·屏蔽材料性能測(cè)試

*屏蔽材料測(cè)試可以測(cè)試允許的在微波段測(cè)試屏蔽效能的方法來(lái)自于ELENA