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BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統關鍵詞：熱電
| BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統 BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統 關鍵詞：熱電，賽貝克系數，電阻率 BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統薄膜熱電參數測試系統MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數和電阻率的測量儀器，采用動態法和四線法保證測試結果的準確和穩定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。 產品特點 ● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。 ● 測試環境溫度范圍達到81K~700K。 ● 采用動態法測 量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。 ● 采用四線法測量電阻率。 ● 卡箍設計，方便進行樣品更換，提高效率。 ● 軟件操作簡單，智能化可實現全自動模式。 產品技術參數
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