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東莞市艾思荔檢測儀器有限公司
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東莞市艾思荔檢測儀器有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號ts-80
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
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更新時(shí)間：2024-07-30 15:09:31瀏覽次數(shù)：110次
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艾思荔冷熱沖擊測試箱（:/張S）采用彩色觸摸式10.4吋液晶螢?zāi)豢刂破?，由溫度感?yīng)器傳送信號，再以微電腦自動驅(qū)動S.S.R. 控制冷,熱溫度，內(nèi)部動作程序由 P.L.C.與控制器連線控制，防止誤動作;具有斷電記憶功能,可選擇冷起熱起中斷之功能,以利復(fù)電後繼續(xù)執(zhí)行未完成之試驗(yàn)。
艾思荔冷熱沖擊測試箱(:/張S)采用彩色觸摸式10.4吋液晶螢?zāi)豢刂破?，由溫度感?yīng)器傳送信號，再以微電腦自動驅(qū)動S.S.R. 控制冷,熱溫度，內(nèi)部動作程序由 P.L.C.與控制器連線控制，防止誤動作;具有斷電記憶功能,可選擇冷起熱起中斷之功能,以利復(fù)電後繼續(xù)執(zhí)行未完成之試驗(yàn)。螢?zāi)痪哂斜彻鈺r(shí)間控制，可調(diào)整背光之明暗度及可自動關(guān)閉螢?zāi)劫Y料。www.aslitest。。ｃｎ
冷熱沖擊測試箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
型號：TS-42
內(nèi)部尺寸(cm)：40×30×35
外部尺寸(cm)：162×200×142
測試區(qū)溫度范圍：高溫：+60℃～+150℃
低溫：-10℃ ～ -65℃(A：-45℃ B：-55℃ C：-65℃)
(高溫區(qū))升溫時(shí)間：RT—200℃約需45min
(低溫區(qū))降溫時(shí)間：RT—-70℃約需90min
回復(fù)時(shí)間：5min內(nèi)
溫度穩(wěn)定度：±0.2℃
保溫材質(zhì)：耐高溫、高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣材料
系 統(tǒng)：P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
冷凍系統(tǒng)：法國泰康全封閉風(fēng)冷式復(fù)疊機(jī)/德國谷輪水冷式機(jī)組
保護(hù)裝置：無熔絲開關(guān)、壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)、冷媒高壓保護(hù)開關(guān)、故障警告系統(tǒng)、電子警報(bào)器
配 件：上下可調(diào)隔層兩片
電 源;3Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380V/415VAC±10% 50Hz
冷熱沖擊測試箱溫度范圍 :
高溫區(qū)部份 : 60℃ – 200℃
低溫區(qū)部份 : -10℃ – -70 ℃
解析精度 : 0.1℃
控制精度 : ±1℃
分布均度 : ±2℃
高溫區(qū)升溫時(shí)間 : 自常溫至 200℃ ，約20分鐘
低溫區(qū)降溫時(shí)間 : 自常溫至 -70℃ ，約60分鐘
測試區(qū)溫度恢復(fù)時(shí)間 : 約50分鐘
結(jié)構(gòu) : 分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測試區(qū)
內(nèi)外箱材質(zhì) : SUS#304耐熱耐寒不銹鋼板
冷熱沖擊測試箱控制系統(tǒng)說明:
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1. 采用彩色觸摸式10.4吋液晶螢?zāi)豢刂破?，由溫度感?yīng)器傳送信號，再以微電腦自動驅(qū)動S.S.R. 控制冷,熱溫度
2. 內(nèi)部動作程序由 P.L.C.與控制器連線控制，防止誤動作
3. 本系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊
4. 機(jī)器故障時(shí)，配有自動停機(jī)回路及警示訊號
5. 機(jī)器運(yùn)轉(zhuǎn)狀況均在LCD畫面上顯示
6. 預(yù)冷區(qū)及預(yù)熱區(qū)自行控制，當(dāng)溫度到達(dá)時(shí)，自行執(zhí)行測試。
7. 測試區(qū)執(zhí)行時(shí)間可設(shè)定0-999H59M。
8. 測試區(qū)執(zhí)行次數(shù)zui高可設(shè)定999cycle可自由設(shè)定。
9. 具有冷段或熱段先執(zhí)行之選擇模式。
10. 程式設(shè)定1-18組可任選。
11. 具有斷電記憶功能,可選擇冷起熱起中斷之功能,以利復(fù)電後繼續(xù)執(zhí)行未完成之試驗(yàn)。
12. 螢?zāi)痪哂斜彻鈺r(shí)間控制，可調(diào)整背光之明暗度及可自動關(guān)閉螢?zāi)劫Y料。
冷熱沖擊測試箱用途：
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具.
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