樹木年輪元素分析儀Scanning XRF簡介
樹木年輪元素分析儀是一款的測量分析設(shè)備，在上同時(shí)采用了XRF和X-射線成像技術(shù)，可用于木材、湖海沉積物、堆積物、泥炭等樣品的濃度和元素分析。可測量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中許多可測至痕量水平以下，對靈敏度和分辨率要求較高的研究尤其適合。
樹木年輪元素分析儀Scanning XRF系統(tǒng)特點(diǎn)：
◎ 結(jié)合了X-射線成像與XRF元素分析
◎ 可得高精度的樣品密度圖像和元素曲線
◎ 利用XRF分實(shí)現(xiàn)多種元素的分析
◎ 可分析不同類型、形狀、尺寸和厚度的樣品，可以是樹木生長錐取下的樹木樣品，也可是片狀、塊狀樣品或圓形沉積物樣品等，不需要對樣品做前期表面處理，樣品準(zhǔn)備簡單
◎ 自動(dòng)進(jìn)行多樣品分析
◎ X-射線成像的信息以數(shù)字化方式儲(chǔ)存，結(jié)果可即時(shí)顯示。
系統(tǒng)組成：
X-射線發(fā)生器，標(biāo)準(zhǔn)LFF型X光顯像管，PolyflatTM 扁平X光束光學(xué)系統(tǒng)，X光束調(diào)節(jié)器，控制臺(tái)，樣品槽，X-射線檢測器，密度校準(zhǔn)塑料楔，操作臺(tái)，平板掃描儀，冷卻裝置，計(jì)算機(jī)，軟件，用戶手冊
樹木年輪元素分析儀Scanning XRF技術(shù)指標(biāo)：
1）測量原理：X-射線熒光分析和數(shù)字X-射線成像技術(shù)
2）X 射線發(fā)生器：60 kV，55 mA，較大功率3.3 kW
3）顯像管：一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的LFF型X光顯像管（Cr）。較大功率工作壽命2000h，功率降低壽命延長。當(dāng)使用鉻管進(jìn)行木材密度分析時(shí)，樣品厚度范圍為1~10mm，厚度較厚的樣品(較厚50 mm )，通常選擇Mo管，這需要另一種類型的X-射線成像感應(yīng)器。
4）光學(xué)系統(tǒng)：PolyflatTM 技術(shù)，PolyflatTM 扁平X光束光學(xué)系統(tǒng)，用于局部區(qū)域的快速測量，測量點(diǎn)面積為50微米×20厘米， X-射線圖像的分辨率達(dá)10x20微米，寬15~20mm（根據(jù)軟件設(shè)置），通過軟件組合片段圖片可得到寬度大于20mm的圖像。使用這種光束的XRF，水平方向的分辨率為50微米，垂直方向的分辨率為2mm。
5）X光束調(diào)節(jié)器：X光束調(diào)節(jié)器可使X-射線圖像在水平方向的分辨率達(dá)10微米
6）控制臺(tái)：一個(gè)300x200mm X/Y可移動(dòng)電腦控制臺(tái)，掃描點(diǎn)長2.5微米，重現(xiàn)性好
7）樣品槽：較多放9個(gè)長280mm，寬7~12mm的木條樣品。樣品槽可拿出。其他類型的樣品槽根據(jù)需要可訂購。
8）X-射線檢測器：線性排列感應(yīng)元件，其測量所得圖像的格式為16 bits。包含控制、操作及數(shù)據(jù)采集所需的硬件和軟件。適于厚度不較過15mm木材類樣品的測量。
9）密度校準(zhǔn)塑料楔：用于密度校準(zhǔn)，位于樣品固定槽上方。
10）操作臺(tái)：780×800×1600mm（長×寬×高），用于放置上面提到的所有原件。測量區(qū)用一塊透明板遮擋，用于防塵，防X-射線泄露。操作臺(tái)內(nèi)置有效控制系統(tǒng)，打開瞬間，X-射線會(huì)自動(dòng)關(guān)閉。
11）掃描儀：一個(gè)平板掃描儀，用于測量前，條形樣品槽內(nèi)樣品的掃描。
12）冷卻裝置：冷卻水泵
13）電源：建議配置UPS
14）重量：250kg
