讓鍍層測厚工作更簡單
• 堅固耐用的鍍層和成分分析設備,可在工廠環境條件下獲得重復精度很高的測試結果。
• 滿足標準 ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987
• 元素測試范圍 Al (13) and U (92).
• Mo 靶材微聚焦 X 射線管,電壓 45KV,45W 可調,滿足各種鍍層測試應用。
• 一代高分辨率硅漂移探測器 SDD
• 采用多毛細聚焦管技術,實際測量點尺寸小于 30 微米。
• 無標樣法用于厚度和材質分析,可使用少量類型標準片節約標樣成本
• 日常分析程序界面簡單應用,方便切換,包含中英文在內多種操作語言。
• 高清攝像頭可放大 16 倍,使復雜細小的樣品易于定位。
• 電動,可程控高精度樣品臺
• 安全互鎖功能,測試過程中艙門鎖閉不可打開
• 激光聚焦和影像自動聚焦功能
• 可選配遙控桿控制樣品臺
*的軟件功用于日程分析和數據處理
• 根據應用程序推薦校準條件且可自由更改條件設定。
• 批次測量數據統計功能包含 COV,值,最小值,平均值,標準偏差等質量控制參數
• 樣品譜圖峰位識別功能,樣品未知元素定性功能
• 創建測試報告,報告模板可編輯,包含測試圖像和統計數據
• 譜圖對比功能用于多樣品材質對比分析
X-ray 組件防撞保護功能
• 超大可視窗口用于查看樣品位置及測試頭位置
• 影像視窗可觀察樣品位置及 X 射線探頭高度
• Z 軸防撞保護功能-測試頭碰撞樣品后 Z 軸鎖定
選配功能
• 基于模式識別的圖像處理軟件,用于單點測量或重復幾何形狀的樣本的精確定位。
Warranty:保固期
• 標準一年原廠保修