塞貝克系數/電阻分析系統 CTA-4

鄭重承諾：甄選供貨商，保證系統品質達到！

         堅決不做低價、減配、低品質的經濟版本和精簡版等系統，維護國內用戶的利益！

熱電材料測試系統CTA-4系統是在CTA-3S系統的基礎上優化了電路控制技術和軟件的易用性，為拓展新功能和可選模塊提供了硬件和軟件的基本架構。

技術特點：

·    可控溫場下可同步測量賽貝克系數和電阻率

·    標準配置進口高級商用吉時利（Keithley ）數采儀表，避免電路板集成數據采集技術帶來的干擾誤差

Keithley技術：

                100nV rms 噪音本底

                直流電壓靈敏度低至 10nV，基本精度為 0.002%（90天）

                7ppm DCV 可重復性，基本 1 年 DCV 準確度：0.0028%

                讀取速度范圍：2k 讀數/秒；

                溫度分辨率：0.001℃；

                交流電壓分辨率：0.1μV

                電阻分辨率：1 μΩ

                電流分辨率：1nA

                低功耗歐姆測量模式

                弱電流電路測試功能

                偏置補償歐姆功能

                檢定低壓元件又快又準確

                提高測量精度的置信度

                以低至 100μA 的源電流測量低阻抗，減少設備自發熱

                進行電阻測量時控制測試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

                消除會在系統環境中進行低電平電阻測量時產生錯誤的熱效應

                提供更精確的低電阻測量

·    標配進口高級商用電流源（ADCMT），非電路板集成恒流源，避免無法精準輸出小電流而產生熱效應和測不準

·    恒流源參數：0.000-220mA；恒流設置分辨率：100nA；恒流穩定性：0.008+20nA/天

·    溫度范圍：RT up to 1150℃

·    光波爐加熱技術，潔凈加熱不污染樣品和無揮發性，對操作者安全健康；整體水路設計和鍍金處理，無水垢堵塞問題，終身免維護
·    控溫速率：0.01 –100K/min，可以節約用戶測試時間

·    配置垂直放樣結構，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差

·    測量范圍：賽貝克系數：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm

·    0-80K溫差范圍可任意設置溫差值及溫差點的個數

·    U-I曲線自動掃描，計算出合適的電流數值， 可以精確測量電導率；不會對大電阻樣品產生誤差

·    鉑金大電極設計，和樣品可充分接觸，對于不均勻樣品也可獲得良好的導電測試

·    熱電偶間距可以根據樣品尺寸調節后固定，滿足不同科研要求

·      精度：賽貝克系數：±7 %；電導系數：±10 %（熱電材料測試，非康銅標樣）；

·      重復性：3%

·    高級應用程序控溫技術，包括溫差和測量步進等高級要求

·    自由升/降溫、可精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數據測量 

·    熱電偶探針可選K、S、R型（無需鎧裝）配置，不會產生非常大的接觸電阻

·    自動壓力安全保護設計，進口美國航天級硬件配置，確保測試過程中不會發生爆炸

·    測量系統：柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統

·    可選配電阻參數連續掃描功能，為其它材料體系提供相變點分析參考

·    可選配視頻測距功能、高電阻測試模塊