技術(shù)特點(diǎn)
· 適用于研究開發(fā)各種材料和薄膜材料電阻系數(shù)
· 高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù),實(shí)時(shí)溫度程序同步掃描
· 自由升/降溫、精確控制溫度程序,進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過(guò)程中的數(shù)據(jù)測(cè)量
· 自動(dòng)壓力安全保護(hù)設(shè)計(jì),確保測(cè)試過(guò)程中不會(huì)發(fā)生爆炸
· 試樣支架采用的接觸式平衡機(jī)構(gòu),保證測(cè)量的高重現(xiàn)性
· 可選原片狀樣品測(cè)量系統(tǒng)
· 可選高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差
甄選供貨商,保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到!
CRA系統(tǒng)硬件組成:
美國(guó)吉時(shí)利 Keithley(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng))
德國(guó) W.HALDENWANGER (高溫陶瓷系統(tǒng))
英國(guó)摩根Morgan(高溫特種材料)
美國(guó)通用電氣GE(光波加熱元件)
英國(guó)歐陸(調(diào)控器)
日本IKO (精密軸承)
測(cè)試性結(jié)構(gòu)圖
圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間,同時(shí)整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)置于一個(gè)加熱爐內(nèi)。加熱爐加熱樣品到預(yù)定的溫度,在此溫度下, 直流電四端法測(cè)量電阻,樣品兩端通入恒定電流,測(cè)量樣品的電壓變化, 可以計(jì)算出電阻系數(shù)。